渦流測(cè)厚儀探頭的原理基于電磁感應(yīng)中的渦流效應(yīng)?。

當(dāng)探頭內(nèi)的高頻線圈通入交變電流時(shí)，會(huì)產(chǎn)生交變磁場(chǎng)；

若金屬基體靠近該磁場(chǎng)，其表面會(huì)感應(yīng)出渦流，渦流產(chǎn)生的反向磁場(chǎng)又會(huì)影響線圈的阻抗參數(shù)?。

通過測(cè)量線圈阻抗的變化量，可間接推算探頭與金屬基體之間的距離（即非導(dǎo)電覆層厚度）?

阻抗變化與信號(hào)反饋?

渦流產(chǎn)生的二次磁場(chǎng)會(huì)削弱原始線圈的磁場(chǎng)，導(dǎo)致線圈阻抗發(fā)生變化。通過檢測(cè)線圈阻抗的變化量，可間接推算線圈與金屬基體之間的距離，即覆層厚度?。

?調(diào)幅式?：通過檢波器測(cè)量線圈失諧后的電壓變化。

?調(diào)頻式?：通過檢測(cè)諧振頻率偏移量轉(zhuǎn)換為厚度信號(hào)。