泰克 Tektronix TLA5000 邏輯分析儀

基本參數(shù)：　 TLA5000 系列邏輯分析儀主要特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)500 ps/32 Mb 的深內(nèi)存定時(shí)及每條通道上125 ps 的MagniVu 同步高分辨率定時(shí)，可以滿懷信心地對快速信號進(jìn)行數(shù)字信號定時(shí)測量235 MHz 狀態(tài)采集，分析高速同步數(shù)字電路；IView TM 模擬和數(shù)字信號同時(shí)相關(guān)顯示，查看模擬問題怎樣影響您的數(shù)字信號；通過建立/保持時(shí)間超限觸發(fā)和顯示，檢驗(yàn)數(shù)字設(shè)備的建立/保持時(shí)間性能；34/68/102/136 通道配置提供了靈活的解決方案,可以適應(yīng)任何預(yù)算應(yīng)用；數(shù)字硬件檢驗(yàn)和調(diào)試；數(shù)字硬件性能監(jiān)測和測量；單處理器和總線調(diào)試。功能 優(yōu)點(diǎn) MagniVu? 采集 借助于所有通道上的較高采樣分辨率（高20 ps）*避免定時(shí)或狀態(tài)采集模式下的事件遺漏。通過旗標(biāo)來標(biāo)記毛刺 避免了通過功能來手動搜索所有通道以顯示毛刺出現(xiàn)的時(shí)間和通道的需要。TS/TH 違例觸發(fā) 利用能夠自動獲得斷續(xù)設(shè)置和保留違例的實(shí)時(shí)違例觸發(fā)功能避免耗時(shí)而復(fù)雜的電路輸出監(jiān)測任務(wù)。

自動測量 利用良好的測量輕松地總結(jié)您的設(shè)計(jì)效果，這些測量結(jié)果包括：頻率、周期、脈沖寬度、占空比以及邊沿計(jì)數(shù)。拖放觸發(fā)器 通過簡單而直觀的觸發(fā)器設(shè)置快速隔離事件。觸發(fā)器包括：通道邊沿、通道值、總線值、多群組值、毛刺、設(shè)置和保持違例，或者“在任何情況下觸發(fā)"（Trigger on Anything）。iView? 顯示 通過集中顯示時(shí)間相關(guān)的、集成的模擬與數(shù)字?jǐn)?shù)據(jù)獲得全面的系統(tǒng)可視性泰克TLA5000B 系列邏輯分析儀：優(yōu)秀的調(diào)試功能、簡單性和低廉的價(jià)格對需要確定初始化故障、運(yùn)行中斷和間歇性操作問題的任何數(shù)字設(shè)計(jì)人員，價(jià)格低廉的TLA5000B 系列邏輯分析儀為他們提供了高速定時(shí)分辨率、深內(nèi)存采集、快速狀態(tài)采集和完善的觸發(fā)功能。不管是*次使用邏輯分析儀的用戶還是資深用戶，TLA5000B 系列都為同時(shí)進(jìn)行狀態(tài)分析和定時(shí)分析提供了理想的解決方案。直觀的用戶界面、熟悉的基于Windows 的桌面和OpenChoice? 聯(lián)網(wǎng)和分析功能，使TLA5000B 系列邏輯分析儀可以簡便地在用戶的設(shè)計(jì)環(huán)境中組網(wǎng)。500 ps 的定時(shí)分辨率和32Mb 記錄長度、同時(shí)實(shí)現(xiàn)125 ps MagniVu 定時(shí)分辨率，使您能夠滿懷信心地在速度日益提高的信號上測量數(shù)字信號定時(shí)。由于MagniVu? 的定時(shí)分辨率，您可以迅速找到各種困難的問題，如數(shù)字邏輯錯誤、毛刺、建立時(shí)間/ 保持時(shí)間違規(guī)和串?dāng)_。您可以使用建立時(shí)間/ 保持時(shí)間超限觸發(fā)和顯示，檢驗(yàn)數(shù)字設(shè)備的建立時(shí)間/ 保持時(shí)間性能。今天，大多數(shù)設(shè)計(jì)可能會同時(shí)具有數(shù)字問題和模擬問題。通過iView? 時(shí)間相關(guān)的模擬和數(shù)字集成顯示，您可以在邏輯分析儀顯示屏上，清楚地查看模擬問題怎樣影響數(shù)字信號。

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